應用描述
檢測手機芯片表面臟污、劃傷等缺陷。通過選用球積分光源，降低光源工作距離，將臟污、劃傷明顯區(qū)別出來。
實物圖
效果圖
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相關產(chǎn)品
OPT-RID52-W
采用特制漫射板，使光源發(fā)出的光線均勻分布在整個圖像上； 有效消除表面不平整形成的干擾。
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