探針臺配件/直流探針
|美國GGB ST系列硬針
類別:ST系列
尺寸:鎢材質(zhì)
特點:ST系列硬針是0.020 inch (0.51mm)直徑鉤材質(zhì)針桿經(jīng)過精密電化學加工成為不同的針尖直徑,長度為 1.5inch(38.1mm)的探針。這種探針應用與絕大多數(shù)的芯片電極點測和線路點測。ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯 片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍銀，如果選擇鍍銀則型號后面增加“N P”
參數(shù):針尖直徑從lum到200um可選
型號:ST-20-0.5/1.0/2.0/5.0/10.0/25.0/50.0/100.0
|美國GGB T-4系列軟針
類別:T-4系列
尺寸:鑄材質(zhì)
特點:T-4系列軟針較多的應用于點測集成電路的線路，電極，或者FIB(聚焦離子束)制作的mini電極。該系列軟針的結構采 用不同直徑鶴材質(zhì)針須焊接于鍍錫的銅材質(zhì)針桿上。其中T-4-10和T-4-22兩款是客戶反饋比較有優(yōu)勢的型號，因為其針須 直徑較細，具有良好的彎曲彈性,能夠極大的減少對芯片電極的損害，在部分震動環(huán)境下面也能夠保證和電極的良好接觸。 T-4軟針不建議在敏感節(jié)點使用，因為會產(chǎn)生電容負載的問題，在此環(huán)境下，建議使用高阻抗Picoprobes系列。
參數(shù):針尖直徑從0.2um到10um可選
型號:T-4-5/10/22/35/60/125.0
|國產(chǎn)鈹銅探針
類別:BCP系列
尺寸:鈹銅材質(zhì)或者鈹銅鍍金
特點：100%純國產(chǎn)鈹銅探針，相比于鶴探針更加柔軟，配合探針臺使用，不容易扎破樣品，能夠極大的減少對芯片電極的損 害，在部分震動環(huán)境下面也能夠保證和電極的良好接觸，比較適合于容易扎破扎穿那種樣品的測試。
參數(shù):針尖直徑從lum到200um可選
型號:BCP050-3800-0.5R/1.0R/2.0R/5.0R/10.0R/25.0R/50.0R/100.0R
|國產(chǎn)鎢探針
類別:WG系列
尺寸:鎢材質(zhì)或者鎢鍍金
特點:WG系列硬針是0.020 inch (0.51mm)直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過精密電化學加工成為不同的針尖直徑,長度為 1.5inch(38.1mm)的探比這種探針應用于絕大多數(shù)的芯片電極點測和線路點測。WG系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可選表面鍍金，表面鍍金時接觸電阻更小，可以減小接觸電阻對測試的影響，也可以防止氧化。
參數(shù):針尖直徑從lum到200um
可選型號:WG-0.5R/1.0R/2.0R/5.0R/10.0R/25.0R/50.0R/100.0R
