YQ-GF-PID光伏組件PID測試系統(tǒng)
一、概述：
YQ-GF-PID型光伏組件PID測試系統(tǒng)/電勢誘導衰減測試系統(tǒng)是常州宇清電氣科技有限公司自主研發(fā)的，測試目的：1.評估光伏組件承受系統(tǒng)偏壓的能力；2.測試光伏組件承受系統(tǒng)電壓、溫度、濕度等各種應力的能力；3.減少和預防PID現(xiàn)象。
執(zhí)行標準：IEC 62804 （Draft）。
光伏應用越來越多，電站規(guī)模越來越大，組件串聯(lián)的數(shù)目不斷增大。這樣，太陽能組件承受高對地勢能的幾率越來越大。當系統(tǒng)的一端接地時，距離接地端最遠的組件對地將產(chǎn)生較高的電勢，美洲接近600V，歐洲接近1000V。一般來說，泄漏電流是經(jīng)過封裝材料、鋁邊框或安裝支架流入大地的。泄漏電的大小與電池片材料及工藝、組件材料及工藝、系統(tǒng)安裝方法、環(huán)境溫度、環(huán)境濕度等因素有關。長期泄漏電將使電池片載流子及耗盡層狀態(tài)發(fā)生變化、電路中的接觸電阻受到腐蝕、封裝材料受到電化學腐蝕，從而導致電池片功率衰減、串聯(lián)電阻增大、透光率降低、脫層等影響組件長期發(fā)電量及壽命的現(xiàn)象。
對組件來說，泄漏電途徑如下圖所示。
泄漏電的途徑主要經(jīng)過玻璃（I1）、EVA 與玻璃的界面（I2）、EVA（I3）、背板材料（I4）和邊框密封材料等到達邊框。
二、測試標準：
1.PID 測試標準引自 IEC 62804 （Draft） “System voltage durability test for crystalline silicon modules – design qualification and type approval”，基本要求是準備 3 塊組件。其中一塊作為控制組件，組件置于一定溫度和濕度的環(huán)境中，將組件的內部導電體與高壓電源的一個極連在一起，組件外導電體與高壓電源的另一極連在一起。 一塊組件在正偏壓下進行老化，一塊組件在負偏壓下老化。
2.測試條件如下：
環(huán)境溫度：60℃±2℃；
環(huán)境濕度：85%±5% RH；
測試時間：96 小時；
測試電壓：在組件需滿足的正系統(tǒng)電壓下或負系統(tǒng)電壓下。
3.組件老化前需經(jīng)過光老化、外觀檢測、最大功率測試、絕緣測試、接地連續(xù)性測試（如果組件有外漏導電體），老化后需進行濕漏電測試、最大功率點測試、外觀檢測、絕緣測試。
具體測試序列見下圖所示：
三、功能特點：
1.組件邊框端永久接地，既模擬實際情況，又防止了測試過程中由于邊框高壓引起的潛在危險；
2.對于每塊組件，采用4線制測試方法，2根高壓線，2根接地線，高壓線通過接線盒與組件內部連在一起，接地線與邊框連在一起或連接在其他有效位置；
3.多路電流同時顯示，報警參數(shù)單獨設置，單路通斷控制；
4.正電源和負電源的無弧化轉換，模擬系統(tǒng)的正極接地或負極接地；
5.倒計時功能，可設置測試時間，自動停止；
6.上位機記錄測試中數(shù)據(jù)；
四、參數(shù)配置：
Ø 設備型號：YQ-GF-PID
Ø 外觀尺寸：640mm*640mm*1500mm
Ø 電源電壓：-1500V～0V/ 0～+1500V
Ø 電源時漂：≤0.3%/h
Ø 電源溫漂：≤0.5‰/℃
Ø 電源紋波：≤0.5%
Ø 電流范圍：1～1000 uA /-1000 uA～-1
Ø 試驗時間：0～168h
Ø 絕緣電阻：＞1000MΩ
Ø 測試組件數(shù)：可定制
五、軟件介紹：
1.實時顯示泄漏電流（微安級）、泄漏電量、絕緣電阻、組件溫度、濕度等參數(shù)；
2.顯示當前測試和歷史記錄中的泄漏電流 （微安級）、泄漏電量、絕緣電阻、組件溫度、濕度等曲線；
3.多路測試條件單獨設置，包括測試時間、系統(tǒng)報警參數(shù)等；
4.所有數(shù)據(jù)可以 Excel 或 Access 表格形式存儲，方便數(shù)據(jù)處理。
六、設備配置：
機柜 1
主機 1
記錄系統(tǒng) 1
控制系統(tǒng) 1
電源 1
