EF-VS319芯片平整度檢測(cè)系統(tǒng)
一、EF-VS319芯片平整度檢測(cè)系統(tǒng)描述
芯片是電子產(chǎn)品中不可缺少的部件，多引腳小間距IC器件在電子產(chǎn)品生產(chǎn)過程中受到外界壓力影響，其針腳的平整度和正位度是否在精度要求內(nèi)，就需要在后續(xù)的檢查修正，并且要滿足貼裝過程的實(shí)時(shí)性和高速高精度要求，因此，芯片平整度的檢測(cè)是非常重要的一個(gè)環(huán)節(jié)！
西安艾菲特光電有限公司基于機(jī)器視覺圖像處理技術(shù)研究開發(fā)的芯片平整度檢測(cè)系統(tǒng)是光電一體化的高精度在線檢測(cè)設(shè)備，專門用于檢測(cè)各種IC芯片針腳及其平整度（水平直線度、共面度）的儀器。系統(tǒng)簡(jiǎn)單設(shè)定后，即可自動(dòng)識(shí)別、檢測(cè)，無須人員操作。該產(chǎn)品圖像清晰直觀，可以方便快速準(zhǔn)確的檢驗(yàn)產(chǎn)品的平面度，明顯提高工作效率和產(chǎn)品質(zhì)量！芯片平整度檢測(cè)系統(tǒng)在檢測(cè)標(biāo)定平面度時(shí)能達(dá)到0.02mm以上的精度�？筛鶕�(jù)檢測(cè)要求設(shè)定平整度誤差范圍。對(duì)不符合要求的工件檢測(cè)后可輸出控制信號(hào)，剔除不合格品。
EF-VS319芯片檢測(cè)系統(tǒng)軟件運(yùn)行界面圖如下：
二、EF-VS319芯片平整度檢測(cè)系統(tǒng)主要功能
Ø 檢測(cè)芯片管腳平整度是否一致；
Ø 廢品漏檢率為零；
Ø 系統(tǒng)檢測(cè)到質(zhì)量問題時(shí)，能發(fā)出報(bào)警信號(hào)，指出出錯(cuò)位置并控制停機(jī)；
Ø 檢查出的所有廢品對(duì)應(yīng)的圖像能夠存儲(chǔ)和查看；
Ø 系統(tǒng)有自學(xué)習(xí)功能，且學(xué)習(xí)過程操作簡(jiǎn)單。
三、EF-VS319芯片平整度檢測(cè)系統(tǒng)主要技術(shù)特點(diǎn)
Ø 操作界面清晰明了，簡(jiǎn)單易行，只需簡(jiǎn)單設(shè)定即可自動(dòng)執(zhí)行檢測(cè)；
Ø 檢測(cè)軟件及算法完全自主開發(fā)，采用亞像素技術(shù)實(shí)現(xiàn)超高的檢測(cè)精度；
Ø 可靈活設(shè)置模板查找、平均灰度值檢測(cè)及距離、角度等多種檢測(cè)算法；
Ø 可選擇局部掃描功能，提高檢測(cè)速度；
Ø 專業(yè)化光源設(shè)計(jì)，成像清晰均勻，確保不形成光斑；
Ø 支持多種產(chǎn)品的檢測(cè)、具備產(chǎn)品在線自動(dòng)搜索等功能；
Ø 安裝簡(jiǎn)單，不影響原生產(chǎn)線工作；結(jié)構(gòu)緊湊，易于操作、維護(hù)和擴(kuò)充；
Ø 可靠性高，運(yùn)行穩(wěn)定，適合各種現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行條件。
Ø 基于PC平臺(tái)，系統(tǒng)可擴(kuò)充性強(qiáng)，基于EF-VS機(jī)器視覺軟件平臺(tái)可擴(kuò)展管腳測(cè)量等功能，也可外接SPC軟件。
示例圖片：
